固態(tài)硬盤有很多性能指標(biāo)，常見的包括順序讀寫（MB/s）、4K隨機(jī)讀寫（IOPS）等等。大廠的固態(tài)硬盤都會在官網(wǎng)上標(biāo)注這些性能指標(biāo)。

但有些時(shí)候大家會發(fā)現(xiàn)，自己實(shí)際測試出來的數(shù)值好像難以達(dá)到廠商標(biāo)稱的水平，是指標(biāo)注水了，還是自己跑分姿勢不對？

以東芝TR200為例，如果使用常見的AS SSD Benchmark測試，無論是順序讀寫帶寬還是4K隨機(jī)讀寫IOPS都未能達(dá)到標(biāo)稱規(guī)范值。

實(shí)際上，東芝已經(jīng)在這些性能數(shù)值的下方標(biāo)注了測定方法，順序讀寫使用IOMeter進(jìn)行：

4K隨機(jī)讀寫IOPS使用CrystalDiskMark測定。CrystalDiskMark測試結(jié)果是按照MB/s顯示的，還需要按照1000進(jìn)制將其轉(zhuǎn)為IOPS：84450/91000，達(dá)到并超出標(biāo)稱指標(biāo)。

為了避免麻煩和分歧，筆者建議SATA固態(tài)硬盤使用TxBench軟件測試。測試時(shí)固態(tài)硬盤作為數(shù)據(jù)盤使用，以減少來自操作系統(tǒng)后臺服務(wù)進(jìn)程的讀寫干擾。

還有一些固態(tài)硬盤在不同容量型號之間會有一定的性能差別，尤其是高速的NVMe固態(tài)硬盤更是如此，對照時(shí)需要找準(zhǔn)自己所用的型號。

以RC100為例，它的順序和隨機(jī)性能測試也依照了兩種不同的測量方式，筆者的建議是NVMe固態(tài)硬盤作為副盤使用時(shí)，用CrystalDiskMark測試可以得到貼近于實(shí)際性能的結(jié)果。

性能優(yōu)化小貼士： 除了測試方法之外，還有一些可以優(yōu)化固態(tài)硬盤性能的小竅門。以東芝TR200為代表的SATA固態(tài)硬盤可以安裝快速存儲技術(shù)驅(qū)動，并在配置電源和性能設(shè)置中禁用鏈接電源管理。該方法適合于采用英特爾主板的電腦平臺。AMD主板不需要特別地去安裝AHCI控制器驅(qū)動，強(qiáng)行指定安裝AMD舊版驅(qū)動將會失去Trim支持，從而影響到固態(tài)硬盤性能和壽命。

以東芝RC100為代表的NVMe固態(tài)硬盤，通常并不需要單獨(dú)安裝驅(qū)動程序。但是RC100需要Windows 10系統(tǒng)來提供對Host Memory Buffer主機(jī)內(nèi)存緩沖特性的支持，進(jìn)而讓性能得到充分的發(fā)揮。

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