玩弄放荡人妇系列av在线网站,日韩黄片,人人妻人人添人人爽,欧美一区,日本一区二区三区在线 |观看,日本免费a级毛一片

您當前的位置: 首頁 > 新聞 > 行業(yè)

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)

來源:網(wǎng)絡(luò) 編輯:弟子規(guī) 時間:2022-04-07 09:00人閱讀

測試時間: 2021 年 10 月 24 日 0 時起—— 2022 年 1 月 10 日止

測試型號:金士頓KC2500(非原廠顆粒用于測試對比)、英睿達P5、鎧俠RD20、西數(shù)SN750、致鈦PC005 Active、三星970EVO PLUS

測試容量:1TB

測試模式:黑盒測試+白盒測試

樣本來源:某東自營隨機性自購

測試項目:廠商宣傳PE數(shù)、冷數(shù)據(jù)、IO負載測試、循環(huán)通斷電測試

測試共消耗硬盤: 18 塊

測試時主要涉及的工具/硬件:urwtest(用于讀寫校驗測試)、Anvil Storage(用于模擬用戶日常使用測試)、Oracle11G(用于模擬IO測試)、Pentaho Kettle(IO測試中間件)、加熱臺(模擬冷數(shù)據(jù)測試)、電磁繼電器(用于模擬通斷電)、 18650 電池、可調(diào)電源、USB線若干、JMS583 方案硬盤盒、M.2 NVME轉(zhuǎn)PCI-E硬盤轉(zhuǎn)接卡等

測試環(huán)境:華碩Z9PAU8(X79 芯片組)+Xeon E5 2650L v2(10C/20T)+三星32G DDR3 REG

系統(tǒng):Windows 10 工作站版(20H2)

測試目的:

1.驗證原廠顆粒硬盤顆粒壽命是否可達原廠宣傳標準(主要)

2.驗證硬盤上長期未使用的文件固件算法對該數(shù)據(jù)讀取速度的影響(冷數(shù)據(jù))

3.驗證硬盤在高負載情況下表現(xiàn)(IO測試——附加項目)

4.驗證在保期間硬盤是否會因斷電導(dǎo)致?lián)p壞(循環(huán)通斷電測試)

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖1)

PS:為保證測試變量一致性,每次測試都是在同一臺機器上同時進行的

先上一張官方宣傳頁的壽命

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖2)

廢話不多說,先直接看結(jié)果(建議綜合一起看)

壽命整體測試結(jié)果:

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖3)

冷數(shù)據(jù)測試結(jié)果:

測試參考閃存通的SSD老化對照表

計算方式使用閃存通的老化計算器

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖4)

先上未老化前的測試結(jié)果做為對比

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖5)

由于全部硬盤質(zhì)保期為 5 年,因此直接測試 5 年老化情況

老化數(shù)據(jù)參考小程序閃存通

模擬溫度: 35 度

老化溫度: 150 度

分別測試半年、一年、兩年、三年、四年、五年

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖6)

1 年模擬后英睿達P5 及金士頓KC2500 在老化測試中掉速最嚴重

英睿達P5 在模擬第二年的時候因數(shù)據(jù)校驗不通過而退出測試

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖7)

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖8)

四年模擬時金士頓因不識別而退出測試

5 年模擬測試三星、致鈦、西數(shù)、鎧俠存活成功

IO測試(子項目)

此處采用Oracle11G數(shù)據(jù)庫+Kettle寫入對比基準線1000W數(shù)據(jù)進行測試

用于計算IO消耗時間

Oracle表空間分別置于每個盤的根目錄內(nèi)

默認分配存儲塊200M,自動增長、自動擴展表空間開啟

Oracle主程序安裝于C盤

安裝Oracle 11G途中

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖9)

用于寫入數(shù)據(jù)的中間件 Kettle

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖10)

英睿達因為在高IO寫入的情況下發(fā)生了掉盤情況,因此IO測試不包含英睿達P5

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖11)

空盤狀態(tài)下各盤寫入耗時均為 37 分鐘寫入1000W測試數(shù)據(jù)(英睿達除外)

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖12)

1~ 3 年模擬情況

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖13)

金士頓KC2500 經(jīng)老化測試后耗時暴增,第三年已完全無法測試IO狀況

西數(shù)及鎧俠在第二年后開始出現(xiàn)較為明顯的變化幅度,三星及致鈦變化不明顯

4~ 5 年模擬情況

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖14)

5 年測試下來,西數(shù)和鎧俠IO縮水基本在20%左右

三星和致鈦與原始數(shù)據(jù)相比IO縮水控制在10%左右

測試視頻:

https://www.bilibili.com/video/BV1uF41187QW/

循環(huán)通斷電測試(僅供參考):

計算方式:假設(shè)用戶在質(zhì)保每天電腦開關(guān)機次數(shù)2- 3 次,一年約為 1000 次, 5 年下來預(yù)計在 6000 次左右

自制簡易型電磁繼電器用于測試自動通斷電

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖15)

測試過程中:

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖16)

1000 次通斷電測試,全部存活

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖17)

值得注意的是僅鎧俠掉了1%的健康度

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖18)

5 年模擬通斷電測試

1.英睿達直接直接掉盤

2.金士頓因數(shù)據(jù)編譯器損壞導(dǎo)致數(shù)據(jù)無法被讀取

3.鎧俠健康掉了15%(看起來鎧俠的健康度還與通斷電次數(shù)掛鉤)

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖19)

三星、鎧俠、西數(shù)、致鈦成功通過 5 年 6000 次通斷電模擬測試,數(shù)據(jù)校驗無異常

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖20)

測試視頻:

https://www.bilibili.com/video/BV1pL4y147cH/

點評(僅個人觀點)

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖21)

鎧俠RD20

優(yōu)點:速度較快、價格適中

缺點:壽命消耗快,冷數(shù)據(jù)方面稍差

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖22)

西數(shù)SN750

優(yōu)點:速度快、IO高、壽命官方符合描述

缺點:冷數(shù)據(jù)問題雖然有所緩解,但仍然存在、價格較高、SN550 在 21 年被爆換顆粒門,目前SN750 是否會換顆粒,待進一步確認

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖23)

三星970EVO PLUS

優(yōu)點:速度快、IO高、壽命符合官方描述

缺點:溫度較高、我的測試過程中炸了一個、售價最高

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖24)

致鈦PC005 Active

優(yōu)點:IO高、售價適中、冷數(shù)據(jù)存儲較出色、顆粒壽命符合官方描述甚至有些超預(yù)期

缺點:大文件持續(xù)寫入速度稍低

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖25)

金士頓KC2500

僅作非原廠顆粒的對比參考,顆?;煊脟乐?,不具備代表性。

我買的三條中 2 條采用閃迪顆粒, 1 條采用東芝顆粒,均為BICS4 制程。聽說還有買到鎂光顆粒的(我暫時沒抽到)。

2021年度原廠顆粒固態(tài)硬盤深度測試總結(jié)(圖26)

英睿達P5,全部測試過中陣亡,可能是我臉黑

因此,無法評論

因英特爾閃存業(yè)務(wù)被海力士收購,近期無新產(chǎn)品因此英特爾不在測試范圍

因海力士固態(tài)大多數(shù)應(yīng)用于OEM領(lǐng)域,暫時未發(fā)現(xiàn)零售系列渠道,因此不在測試范圍

聲明:本次測試源自B站UP主小飛機DIY,結(jié)果僅供參考,最終解釋權(quán)歸原廠品牌所有!


本站所有文章、數(shù)據(jù)、圖片均來自互聯(lián)網(wǎng),一切版權(quán)均歸源網(wǎng)站或源作者所有。

如果侵犯了你的權(quán)益請來信告知我們刪除。郵箱:business@qudong.com

相關(guān)文章