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美科學(xué)家開發(fā)全新耐高溫存儲(chǔ)設(shè)備:600℃高溫?cái)?shù)據(jù)不丟失

來源:快科技 編輯:非小米 時(shí)間:2024-05-06 16:18人閱讀

快科技5月6日消息,據(jù)媒體報(bào)道,美國賓夕法尼亞大學(xué)的研究團(tuán)隊(duì)近日成功開發(fā)了一款全新耐高溫存儲(chǔ)設(shè)備,該設(shè)備能在高達(dá)600℃的極端環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行,確保存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)安全無虞。

這款耐高溫存儲(chǔ)設(shè)備的核心在于其獨(dú)特的制造材料——氮化鋁鈧(AIScN)。據(jù)研究團(tuán)隊(duì)成員Deep Jariwala介紹,氮化鋁鈧具有出色的化學(xué)穩(wěn)定性,其強(qiáng)大的化學(xué)鍵能在高溫下保持結(jié)構(gòu)的完整性和功能性,這使得該設(shè)備在面對高溫挑戰(zhàn)時(shí)展現(xiàn)出超凡的耐用性。

設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)采用了“金屬-絕緣體-金屬”的經(jīng)典設(shè)計(jì),其中,一層45nm厚的氮化鋁鈧(AIScN)作為絕緣層,巧妙地將金屬鎳電極和金屬鉑電極結(jié)合在一起,這層氮化鋁鈧的厚度是設(shè)備成功的關(guān)鍵。

Jariwala解釋說:“氮化鋁鈧的厚度需經(jīng)過精心控制,太薄會(huì)導(dǎo)致材料在高溫下過于活躍而退化,而太厚則會(huì)削弱其鐵電開關(guān)性能,進(jìn)而影響設(shè)備的工作效率。”

這項(xiàng)技術(shù)不僅是對材料科學(xué)的突破,更是對當(dāng)前芯片架構(gòu)設(shè)計(jì)的一次重大革新。Jariwala指出,傳統(tǒng)的芯片架構(gòu)中,中央處理器和內(nèi)存是分離的,這導(dǎo)致了數(shù)據(jù)傳輸?shù)难舆t和效率低下。

尤其在處理大數(shù)據(jù)的AI應(yīng)用程序中,這種缺陷更為明顯。而這款耐高溫存儲(chǔ)設(shè)備通過允許內(nèi)存和處理器更緊密地集成在一起,極大地縮短了數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間,從而提升了計(jì)算速度、復(fù)雜性和效率。這種設(shè)計(jì)理念被研發(fā)團(tuán)隊(duì)稱為“內(nèi)存增強(qiáng)計(jì)算”。

展望未來,這款耐高溫存儲(chǔ)設(shè)備有望在AI系統(tǒng)建設(shè)中發(fā)揮重要作用。其卓越的耐高溫性能和高效的計(jì)算效率,將有助于提高AI系統(tǒng)的運(yùn)行穩(wěn)定性和計(jì)算效率,為人工智能領(lǐng)域的發(fā)展注入新的活力。

美科學(xué)家開發(fā)全新耐高溫存儲(chǔ)設(shè)備:600℃高溫?cái)?shù)據(jù)不丟失

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