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華為公布最新芯片封裝專利:可提高芯片焊接優(yōu)良率

來源:快科技 編輯:非小米 時(shí)間:2024-11-17 08:35人閱讀

快科技11月17日消息,今日在國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)查詢發(fā)現(xiàn),華為技術(shù)有限公司日前公告了一項(xiàng)名為“芯片封裝結(jié)構(gòu)、電子設(shè)備及芯片封裝結(jié)構(gòu)的制備方法”的專利,授權(quán)公告號(hào)CN116250066B,申請日期為2020年10月。

專利涉及芯片封裝技術(shù)領(lǐng)域,該申請實(shí)施例提供一種芯片封裝結(jié)構(gòu)、電子設(shè)備及芯片封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,主要目的是提供一種能夠比較精準(zhǔn)控制粘接膠層厚度尺寸的芯片封裝結(jié)構(gòu)。

據(jù)介紹,由于高速數(shù)據(jù)通信和人工智能對算力的需求激增,芯片集成度進(jìn)一步提升,其中,在芯片尺寸變大的同時(shí),多芯片合封技術(shù)也被廣泛采用,進(jìn)而使整個(gè)芯片封裝結(jié)構(gòu)的尺寸在不斷的增大。

隨著芯片封裝結(jié)構(gòu)尺寸變大,芯片與封裝基板的熱膨脹系數(shù)失配會(huì)讓封裝熱變形控制變得越來越困難,封裝熱變形變大會(huì)直接導(dǎo)致整個(gè)芯片封裝結(jié)構(gòu)發(fā)生較大的翹曲。

華為公布最新芯片封裝專利:可提高芯片焊接優(yōu)良率

據(jù)了解,華為申請實(shí)施例提供的芯片封裝結(jié)構(gòu)中,由于多個(gè)定位塊的任一定位塊的厚度等于粘接膠層的厚度,在制備時(shí)將多個(gè)定位塊設(shè)置在封裝基板上后,再點(diǎn)膠,然后再封裝加固結(jié)構(gòu),這樣加固結(jié)構(gòu)的朝向封裝基板的面就會(huì)抵接在多個(gè)定位塊上。

華為公布最新芯片封裝專利:可提高芯片焊接優(yōu)良率

通過定位塊限定了加固結(jié)構(gòu)的位置,進(jìn)而會(huì)精準(zhǔn)控制粘接膠層的厚度尺寸,若定位塊的厚度和粘接膠層的厚度的設(shè)計(jì)值相等或相近時(shí),會(huì)使最終封裝形成的粘接膠層的厚度與設(shè)計(jì)值相等或接近。

在保證封裝內(nèi)應(yīng)力較小的同時(shí),兼顧翹曲程度不能太大,從而在將該芯片封裝結(jié)構(gòu)與PCB焊接時(shí),可提高焊接優(yōu)良率。

同時(shí),在批量封裝同一規(guī)格的芯片封裝結(jié)構(gòu)時(shí),不會(huì)出現(xiàn)有些粘接膠層較厚,有些粘接膠層較薄的現(xiàn)象,能夠?qū)崿F(xiàn)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的統(tǒng)一。

華為公布最新芯片封裝專利:可提高芯片焊接優(yōu)良率

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